Agilent7800 ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜儀

Agilent7800 ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜儀

Agilent 7800 ICP-MS 已被智能 7850 ICP-MS 儀器取代。7850 ICP-MS 配置可實(shí)現(xiàn)常規(guī) ICP-MS 應(yīng)用的快速設(shè)置和簡化分析，從而節(jié)省了時間，并使您的實(shí)驗(yàn)室輕松獲得出色的結(jié)果

Agilent7800 ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜儀

快速提高常規(guī)金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包括預(yù)設(shè)方法，這些方法可輕松載入并以預(yù)定義設(shè)置（從等離子體條件到分析物積分時間和內(nèi)標(biāo)）運(yùn)行。對于新方法，方法向?qū)Э苫跇悠奉愋秃蛻?yīng)用創(chuàng)建方法。

減少樣品前處理 — 7800 ICP-MS 標(biāo)配的高基質(zhì)進(jìn)樣 (HMI) 技術(shù)，無需稀釋即可分析總?cè)芙鈶B(tài)固體 (TDS) 含量高達(dá) 3% 的樣品，減少了樣品前處理并節(jié)省了時間。

一定程度減小信號抑制 — HMI 可減小信號抑制，因此可以準(zhǔn)確測定高基質(zhì)樣品而無需基質(zhì)匹配的校準(zhǔn)標(biāo)樣。

有效去除干擾，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性 — 氦 (He) 碰撞模式可在同一套質(zhì)譜條件下去除多原子離子干擾，簡化了方法開發(fā)與日常操作。He 模式無需針對特定基質(zhì)或分析物的反應(yīng)池條件。

在一次運(yùn)行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態(tài)范圍正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可在一次運(yùn)行中實(shí)現(xiàn)常量元素（數(shù)百或數(shù)千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析。較高的濃度上限可減少由超量程結(jié)果造成的樣品再運(yùn)行。

一定程度提高通量和分析效率 — 可選的集成進(jìn)樣系統(tǒng) (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進(jìn)樣器可在不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量的前提下降低每次分析的成本。